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美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪

简要描述:

美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪简单轻便,能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量。基于TSI40年气溶胶仪器设计的经验

更新时间:2020-03-31 厂商性质:代理商
访问量:56 起订量:>1

美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪

本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和精密的电子处理系统,从而得到高质量和高精度的数据。

同时,TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的精性。3330不仅可以单独使用,而且还可以放入TSI的外场环境箱中在野外使用。



 产品特点:

  • 0.5微米时粒径分辨率小于5%
  • 粒径通道用户可调
  • 检测粒径范围:0.3-10微米,很多16通道
  • 颗粒物粒径感应范围:0.5至25 mm
  • 检测浓度范围:0-3000 个 /cm3
  • 彩色触摸屏,直观的用户界面
  • 完全满足ISO 21501-01/04要求
  • 输入折射率和密度可以同时显示颗粒物数浓度和质量浓度
  • 收集的采样膜可进行称重测量和化学分析
  • 电池电量可供20小时的操作
  • 很多可存储30000个数据
  • 记录每个样品的温度和压力

美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪 技术参数
测量原则 :
120°光散射和滤膜采样
浓度限制:
很高3,000个/ cm3 (3,000,000个/L)
质量浓度 :
0.001-275,000 mg/m3
颗粒物粒径:
检测粒径范围:0.3-10 mm 
粒径分辨率:0.5mm时5%(符合ISO 21501-01/04)
粒径通道 :很多16通道,用户可调

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